产品信息
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- 产品名称:万深SC-X型小麦品质分析和面粉白度麸星检测仪
- 型号:SC-X
- 品牌:万深
- 价格:0.00
- 市场价:0.00
- 主要特点:上市时间：2012年4月 创新点:仪器由光学成像系统、智能分析软件、电子天平组成。具有卓越的自学习能力，实现人性化的“一键”式智能分析，并可交互修正个别的分类错误点，以达到100%正确分类结果。由专业
- 描述:1．用途：
快速测量小麦的粒数、千粒重、粒形、霉变率、破损率、虫蚀率等，面粉的麸星、砂石的大小和含量，以及检测面粉白度。用于实验室快速检测获得批处理数据（包 括小麦粒数、千粒重、籽粒形状、籽粒整齐度、籽粒饱满度、籽粒颜色、霉变率、破损率、虫蚀率；面粉的麸星、砂石的大小和含量，以及面粉白度）。小麦品质检 测方法符合GB5504-85《粮食、油料检验小麦加工精度检验法》，面粉白度分析指标均优于JJG512-87《白度仪国家计量鉴定规程》。
2．仪器特点：
仪器由光学成像系统、智能分析软件、300g量程1mg精度电子天平组成。系统具有卓越的自学习能力，实现人性化的“一键”式智能分析，并可交互修正个别的分类错误点，以达到100%正确分类结果。该分析系统能大批量处理，全自动分析300个以上小麦和面粉样品的高分辨率图像。由专 业软件分析成像后的彩色图像，准确、快速地测定小麦的粒数、千粒重、籽粒形状、籽粒整齐度、籽粒饱满度、籽粒颜色、霉变率、破损率、虫蚀率等指标，以及面 粉中的麸星粒数和大小、麸星面积比和对应的砂石占比。面粉白度采用标准白自动比色法检测。软件能让用户实时看到真实样品分析过程情况；当面粉指标偏离设定 参数时，可报警显示；用户可随意查询检测结果，并打印。所有测试图像分析结果和数据可在电脑上显示并保存。数据准确可靠，结果稳定、重复性高；样品可重复 测试，重现性高。
3．主要性能指标：-
标准测量面积：小麦为A4纸幅面；面粉为40mm×30mm
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测量时间：小麦≤1分钟/样品；面粉≤1分钟/样品
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小麦测量重复性误差≤1.0%
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面粉白度示值误差：≤1.5，示值重复性：＜0.2
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可接入条码枪来自动刷入样品编号，分析结果可对应样品编号输出至EXCEL表，分析图像标记结果可保存
带RS232线电子天平（300g量程、1mg精度）1台，LED光源、最高光学分辩率4800×9600dpi彩色扫描仪1台，智能分析软件光盘1张（含使用操作手册）、软件锁1只，籽粒收纳盘1个，以及90mm面粉成像圆盘、快速铺粒器各1付、白色标准板1块。（电脑需另配，内存≥2GB， 32位的Windows 7专业版环境）。
仪器总尺寸、总重量：宽×深×高约50cm×40cm×12cm，～3kg。 -